Тестер микросхем на ATMega16/32

[Ewgeny7]

По-идее, маппинг логических выводов на физические должен давать задержку в десятки инструкций

Возможно... У тебя же там мудрено сделано. Это у меня - сразу портами идет работа
Но я у себя вводил задержки для старых серий.

[Advertiser]

[Prusak]

Я попробовал с задержками. Правда, в файле с тестами задержки измеряются "в попугаях", я ставил много-много инструкций, которые по идее должны были "попридержать коней". Даже кварц менял на более медленный. Всё то же. Не тестирует.

К сожалению я не знаком с работой самой прошивки тестера, но сильно подозреваю, что питание даётся не в импульсе, а просто - подал на время теста одного типа микросхем и всё. В моих силах только протестировать отклик микросхемы в статике, однако на ней напряжение падает вообще до 1,8В, что неудивительно - ВА86 пожирает порядка 840 мВт мощности (если журнал "Радио" не врёт).

[Trol73]

Вообщем, после того, как благодаря героическим стараниям Prusak-а баз тестируемых микросхем существенно расширилась, а количество свободной памяти меги32, соответственно, существенно сократилось, решено было соорудить нового франкенштейна
От версии 2.0 хочется возможности проверять микросхемы в любых (узких/широких) корпусах до DIP-40. Следовательно, напрашивается переход на мега128, как МК с достаточным для этого количеством выводов. При этом для управления дисплеем и клавиатурой придется использовать отдельный МК, видимо, мегу8. Это вызвано тем, что
1. выводов меги128 на все все равно не хватит
2. питание дисплея 3.3В, питание основного МК - 5В, будет лучше записать 2й МК от 3.3В чтобы решить проблему сопряжения с дисплеем

Конструктивно агрегат видится состоящим из трех модулей:
1. Основная плата. Состоит из универсальной ZIF-панели + мега128 + резисторы.
2. Модуль дисплей + клавиатура + мега8. Подключается через uart к основной плате
3. Модуль полевых транзисторов для подачи питания + регистры типа HC595 для управления ими (регистров, наверное, будет штуки три) . Опциональный модуль если хочется работать с прожорливыми микросхемами.

Разбиение на модули связано с желанием упростить разводку печатных плат, уменьшить размеры и иметь возможность легкой модернизации в последующем.
Основная плата будет самодостаточным тестером при подключении к компьютеру по UART. Одна из хотелок на будущее - небольшой адаптер в ZIF-панель для программирования ретро-ПЗУ вроде РЕ3, РТ4/5.

Сейчас нарисовал схему и развел плату основного модуля, после окончания праздников у китайцев отдам в производство. Ежели кому-то интересно, могу выложить Eagle-проект

[Ovvnex]

Функционал нового тестера просто супер!
А не будет ли возможности подписаться на заказ чистой платки(платок модулей) или конструктора? Было бы очень здорово.

[Trol73]

Функционал нового тестера просто супер!
А не будет ли возможности подписаться на заказ чистой платки(платок модулей) или конструктора? Было бы очень здорово.

Вообще, проект пока развивается неспешно, в "фоновом режиме". Плат планирую заказать для начала десяток (больше нет смысла, т.к. в первой версии вероятны ошибки). Потому, если будут желающие, можно будет организовать еще партию (пока желание изъявили три человека).

[CodeMaster]

При этом для управления дисплеем и клавиатурой придется использовать отдельный МК, видимо, мегу8

Монстэр! ;-)

[Vasily]

Я присоеденюсь к платке, если для 128-й меги будете делать, можно и первого релиза.
PS. А платки тестера на 16-й меге делались?

[blackmirror]

Trol73, если делать франкенштейна, то есть такие соображения:
1) если тестируемая микросхема имеет защитные диоды, соединена только с мегой, то подав высокий уровень на землю микросхемы, его можно увидеть и на других ногах, аналогично можно подать низкий уровень на питание.
2) если защитных диодов нет, при отсутствии питания большинство ног микросхемы пребывает в Z-состоянии, то по идее между землёй и питанием должна быть или повышенная ёмкость или пониженное сопротивление, иными словами выдача на одну из ног некоторого логического уровня может привести к изменению состояния другой ноги.
3) кратковременно выдав на ногу меги 0 или 1 и переключившись в режим входа можно сразу же прочитать его обратно, если подтягивающие резисторы отключены, нога микросхемы находится в Z-состоянии или такой ноги у неё вообще нет
4) если выбрать мегу с 16 каналами АЦП, каждый канал параллельно с еще одной ногой(через резисторы) подключить к кандидатам на питание микросхемы, то когда мы примерно определились сколько у нас ног и где может быть питание, можно кратковременно подать питание и замерив падание напряжения выяснить какой нужен ток и можем ли мы его обеспечить (в случае питания через внешний транзистор возможность оценки потребляемого тока тоже остаётся).
5) 16 каналов АЦП вроде только у меги в 100 ног, поэтому внешние регистры для управления транзисторами возможно и не нужны.
6) возможно есть смысл для хранения тестов использовать SPI-flash, кроме того туда существенно больше прошивок может поместиться. Вообще описание тестов в виде состояния входов/выходов хорошо только для микросхем без памяти, а для какого нибудь счётчика без циклов полноценный тест будет весьма длинным, а если в счётчик по сигналу сброса можно загрузить 0, но при определённом значении он сбрасывается не полностью/не сразу, то для выявления этого уже будет нужен двойной цикл. Сдвиговые регистры с параллельной загрузкой для полноценного тестирования тоже требуют загружать все возможные значения, а потом еще при проверке правильности сдвига ссылаться на определённый бит загруженного значения.

Есть некоторые подозрения, что в автоматическом режиме тестер должен определить сколько у микросхемы ног, где питание, где входы и выходы, а выполнять автоматические тесты можно только если это точно мелкая логика, а не какое нибудь однократно программируемое ПЗУ.

[Ovvnex]

Я присоеденюсь к платке, если для 128-й меги будете делать, можно и первого релиза.

Тоже присоединюсь к желающим. Устройство хоть и полезное, но всяко прикладное, а поэтому потеря внешнего вида от мгтф и навесных элементов точно не испугает.

[Trol73]

Тоже присоединюсь к желающим. Устройство хоть и полезное, но всяко прикладное, а поэтому потеря внешнего вида от мгтф и навесных элементов точно не испугает.

Вас помню, уже посчитал

Я присоеденюсь к платке, если для 128-й меги будете делать, можно и первого релиза.
PS. А платки тестера на 16-й меге делались?

Хорошо, желающих стало четыре
Платок для тестера на 16й меге я не делал - ее было нетрудно заутюжить ЛУТом )

Trol73, если делать франкенштейна, то есть такие соображения:
...

По поводу шаманства с выводами в Z-состоянии - кмк, это все слишком ненадежно

кратковременно выдав на ногу меги 0 или 1 и переключившись в режим входа можно сразу же прочитать его обратно

т.к. можно прочитать, а можно и не прочитать, тут как повезет. Пока метод простого перебора показал себя как достаточно эффективный, если тестер не угадал микросхему, то обычно первый-второй тест сразу же фейлится и переходим к следующему. А АЦП, имхо, тоже сложно получается, хотя бы то, что разводка платы сильно усложнится да и прошивка тоже.
Кстати, да - тип корпуса мы можем попробовать определить перед тестом чтобы сразу отсеять кучу микросхем.
По поводу SPI-flash полностью согласен, при необходимости в будущем можно будет ее добавить. Либо SD-карту. Но пока кажется, что до этого не дойдет и 128кб хватит всем

По поводу полноты тестов - имхо, нет смысла тестировать вообще все возможные комбинации входов - их может быть нереально много (тем более, если учитывать предысторию), достаточно конечного количества тестов. В любом случае, этот вопрос решается добавлением новых команд в язык описания тестов.