Тестовое ПЗУ

[KTSerg]

Добавил в тест опрос клавы.
Получилось два варианта поведения, даже три.
1. Тестируется первый банк ОЗУ, тест прекращается и выводится результат, не зависимо от того, были обнаружены ошибки или нет.
Далее по нажатию клавиш "1", "2", "3", "4" - можно запустить отдельно тест каждого из банков микросхем.
При этом по клавише "0" начнётся тестирование разрядов шины адреса ОЗУ только после проверки всех банков микросхем и при отсутствии проблем.

2. Тестируются все банки микросхем последовательно, при отсутствии проблем, сразу переходит на тест разрядов шины адреса.
При обнаружении проблем в тесте одного из банков микросхем, тест прекращается, выводится результат тестирования проблемного банка.
Далее по нажатию клавиш "1", "2", "3", "4" - можно запустить тесты других банков. Если при тестировании выбранного банка нет проблем, сразу тестируется следующий банк, и так до последнего. Не зависимо от результата тестирования 4го банка, тест останавливается, так как в предыдущих тестах были обнаружены проблемы.

3. Аналог второго варианта, только тестирование банков зациклено.
Если к примеру, во 2ом банке микросхем была проблема, и был запущен тест 3го банка, то при положительных результатах тестирования 3го и 4го банка, тест снова начнет проверку 1го банка, затем 2го - на нём снова остановится.

Вот сижу, думаю, какой вариант понятнее, удобнее...

Если кому-то интересно, запустить тесты, покрутить, помочь решить, какой удобнее, то могу выложить эти варианты, в тестовых версиях, для запуска в эмуляторе, с симулированными ошибками ОЗУ, и без них.

[ivagor]

Удобнее был бы автоматический тест всех банков, но очевидно не хватает регистров и озу нельзя использовать. Можно сделать полный автоматический тест с использованием 15 состояний.
0. Тестируем банк 1, если нет ошибок - переход в состояние 1, если есть - в состояние 2.
1. Тестируем банк 2, если нет ошибок - переход в состояние 3, если есть - в состояние 4.
2. Тестируем банк 2, если нет ошибок - переход в состояние 5, если есть - в состояние 6.
...
7. Все банки работают правильно.
...
14. Все банки работают неправильно.
Нумерация состояний конечно может быть другая.
Т.е. тут информацию о состоянии теста несет адрес выполняемой части программы.

[KTSerg]

Удобнее был бы автоматический тест всех банков,
...
7. Все банки работают правильно.
...
14. Все банки работают неправильно.
Нумерация состояний конечно может быть другая.
Т.е. тут информацию о состоянии теста несет адрес выполняемой части программы.

А что потом с этими состояниями делать?
Сейчас, при обнаружении сбоя, бордюром указывает на конкретные микросхемы, из которых считалось не то, что в них записывалось.
А номер состояния, что покажет?
Фактически 15 состояний это 4 бита, банков тоже 4. У меня сейчас итак есть флаги для каждого банка, указывающие проверен он или нет, есть в нём сбой или нет. На основании анализа этих флагов, принимается решение, тестировать разряды шины адреса, или это бесполезно, так как с ОЗУ обнаружены проблемы.

Кстати, в доках на ВВ55 прочитал, что при настройке портов на выход, у них есть регистры-защелки, т.е. что записал в порт, то из него и прочитаешь.
В эмуляторе это работает, осталось на реале испытать.

Если использовать порты ВВ55 для хранения результатов тестирования банков, то вполне можно иметь в наличии инфу о сотоянии всех 32ух микросхем. Только как их отобразить, на экран нельзя, бордюром получается только один банк за раз. Либо полоски будут слишком мелкие, считать и идентифицировать микросхемы замаисся.

Я пытался выводить на левый бордюр один банк, на правый другой... но в 192 такта не укладываюсь, у меня получается перебор примерно на 16 тактов.
Да и толку с вывода на экран двух банков, нужно ведь выводить инфу о 4ёх.

[ivagor]

Думал, что проблема больше в сохранении информации об ошибках до момента отображения. Если проблема больше в отображении, то можно чередовать отображение ошибок, например показывать каждый банк по 5 (или не 5, а сколько удобнее) секунд, потом следующий и потом по кругу. Еще можно цветом, но это, понятное дело, только для подключения в цвете.
Порты ВВ55 настроенные на вывод читаются, почему же не будут, это проверяли.

[KTSerg]

Думал, что проблема больше в сохранении информации об ошибках до момента отображения. Если проблема больше в отображении, то можно чередовать отображение ошибок, например показывать каждый банк по 5 (или не 5, а сколько удобнее) секунд, потом следующий и потом по кругу. Еще можно цветом, но это, понятное дело, только для подключения в цвете.
Порты ВВ55 настроенные на вывод читаются, почему же не будут, это проверяли.

Ну так первый вариант, это и обеспечивает. Какую кнопку нажал, состояние того банка и увидел. И не моргает, есть время записать, отметить.
Про ВВ55, хорошо, что проверяли и работает, значит есть запас ещё два регистра/байта.

[ivagor]

есть запас ещё два регистра/байта.

По максимуму можно использовать 4 порта: порт C системной ВВ55 и порты A, B, C ПУшной. Порты A и B системной придется оставить, чтобы нормально показывать на экране (и опрашивать клавиатуру).

- - - Добавлено - - -

Хотя пожалуй я погорячился, если опрашивать клавиатуру, то порт C системной отпадет (т.к. при смене режима ВВ55 он будет обнуляться) и останется 3 ПУшных.

[Advertiser]

[KTSerg]

По максимуму можно использовать 4 порта: порт C системной ВВ55 и порты A, B, C ПУшной. Порты A и B системной придется оставить, чтобы нормально показывать на экране (и опрашивать клавиатуру).
Хотя пожалуй я погорячился, если опрашивать клавиатуру, то порт C системной отпадет (т.к. при смене режима ВВ55 он будет обнуляться) и останется 3 ПУшных.

Да, точно, спасибо за напоминание, если клаву не опрашивать, значение скролинга в данной ситуации не актуально, и системный порт скролинга вполне сойдёт для хранения данных.

Если использовать порты для хранения результатов тестирования банков, то похоже укладываюсь по тактам, чтобы отобразить на бордюрах одновременно все 4 банка, два справа, и два слева.
Буду пробовать.

[KTSerg]

Засунул состояние банков микросхем ОЗУ в порты, вывел одновременно все четыре банка на бордюры. Отпала необходимость сканить клаву.
Можно сказать, что определился с выводом на экран результата тестирования.
Сейчас нужно вырезать из теста весь дебагерный код, не повредив основной.

В прицепе картинки, вывод банков на бордюры при (эмулированом) наличии "битых" микросхем ОЗУ.
Положение "битой" микросхемы в банке снизу, соответствует номеру банка микросхем.
Если с ОЗУ проблемы не выявлены, то выполняется тест разрядов шины адреса.
И вторая картинка, это разряды шины адреса, по идее А0-внизу, А6-вверху. На картинке проблем с шиной нет, по идее, замкнутые между собой разряды будут отмечены чёрным цветом.
Тут бордюры равны по значению, хотя для приколу, можно выводить результат теста шины адреса только на один бордюр.

[ivagor]

На всякий случай еще стоит проверить в начале минимальную исправность ВВ55, читается ли из порта записанное значение.

[KTSerg]

На всякий случай еще стоит проверить в начале минимальную исправность ВВ55, читается ли из порта записанное значение.

Конструктивное замечание.
Добавил тест портов: 3h, 5h, 6h, 7h.
Как обычно, при обнаружении проблем, вывод результата на бордюр.
Расположение соответственно: нижняя полоса для 3h, верхняя - 7h.
Во вложении скриншот с эмуляцией обнаружения проблемы у порта 5h.