Адаптировать тест для работы из ПЗУ загрузчика возможно. Но нужно понимать, какая доработка сделана на Векторе при замене ПЗУ загрузчика.
Если ПЗУ загрузчика увеличено до 32КБ, то будет возможен тест ТОЛЬКО экранной области ОЗУ.
Версия теста для тестирования ОЗУ в диапазоне адресов 8000h-FFFFh.
Должна работать при запуске из ПЗУ загрузчика.
Выложена в сообщении на первой странице темы.
Последний раз редактировалось KTSerg; 12.11.2020 в 07:47.
Improver (10.11.2020)
А почему бы и не остановить тестирование? Если есть ошибка, то спешить уже некуда, нужно о ней как-то сообщить, а потом можно будет продолжить.Сообщение от KTSerg
Отказ от использования ОЗУ для хранения значений переменных, стековых операций, и прочих плюшек (связанных с наличием ОЗУ), приводит к резкому сокращению функционала.А почему бы и не остановить тестирование? Если есть ошибка, то спешить уже некуда, нужно о ней как-то сообщить, а потом можно будет продолжить.
Регистров катастрофически не хватает (для реализации идей, порождённых буйной фантазией).
Классический вызов подпрограмм не возможен. Можно выделить подпрограмму, только если она не будет использовать одну из регистровых пар (чтобы вернуться из функции в основную программу), и не нарушит содержимое регистров с нужными данными (сохранить то их негде).
Вероятно есть возможность сделать вывод каждой ошибки, но это если функция вывода будет использовать минимум регистров.
Я вот думаю, может к РС подключить, и ему передавать ?
Появится адекватная интерпретация результата теста, а не подсчёт морганий светодиода.
А почему не сделать простой вывод в порт, как я предложил выше? Если уж делать внешнее тестовое ПЗУ, то там можно на шину данных повесить восемь триггеров, на выходе светодиоды, это добавит в схему всего-то три микросхемы (триггер + пару штук на логику для выделения порта, как в схеме квазидиска).
Ещё есть такой вариант алгоритма тестирования: можно сначала оттестить, например 8000h-8100h, и если там всё ок, то использовать её как стек, или для хранения результатов. Если в этой области ошибка всплыла, показать миганием и протестить следующие 256 байт, пока не будет найден исправный блок. Нет исправных блоков -- полный "систем еррор"...
В версии теста для 32КБ есть вывод результата тестирования банка микросхем в порт ПУ.
В порт 07 выводится маска наличия ошибок микросхем.
В порт 06 (два младших бита) номер банка микросхем.
"0" на выходе ПУ должен зажигать светодиод. Погасший светодиод в маске означает брак данной микросхемы в данном банке.
Про адаптивность теста я уже писал.Ещё есть такой вариант алгоритма тестирования: можно сначала оттестить, например 8000h-8100h, и если там всё ок, то использовать её как стек, или для хранения результатов. Если в этой области ошибка всплыла, показать миганием и протестить следующие 256 байт, пока не будет найден исправный блок. Нет исправных блоков -- полный "систем еррор"...
Надо думать над этой темой.
У вектора 4 линейки озу и в идеале желательно выдавать данные о каждой из них. Если через ПУ, то можно мультиплексировать результаты по времени, например некоторое время в A и B выдаются данные по 8000-9FFF и A000-BFFF, потом зажигается РУС/ЛАТ (можно выдать и в C при желании) и выдаются данные C000-DFFF и E000-FFFF, потом все по кругу.
Радиолюбителям я не указ, но если без телевизора, то самый простой способ выдачи результатов - через магнитофонный выход. Правда он прост только для пользователя, т.к. требует минимума телодвижений - записать wav через шнурок, а для разработчика теста без использования озу он сравнительно сложен.
Заменил ПЗУ загрузчика на ПЗУ с тестом ozu_m_32.
Тест запустился. Резать дорожки не очень хочется, для проверки обнаружения ошибок ОЗУ.
Правда я при инициализации портов забыл отключить ВИ53... пищит зараза...
Можно существенно сократить объём выводимых данных, если передавать номер бита, на котором произошёл сбой в памяти (0..7) и номер банка памяти (0..3), для этого хватит всего пяти линий одного порта ПУ, оставшиеся три линии можно использовать для вывода какого-нибудь кода ошибки. Или, практически то же самое, можно выводить номер сбойной микросхемы памяти (в формате строка/столбец), если это рассчитать будет не сложнее. Таких данных будет более чем достаточно для локализации проблемы в ОЗУ Вектора.
Это для приёма логическим анализатором?
Для него можно: 3 бита - положение сбойной микросхемы и 2 бита номер банка. Ещё один бит на импульс синхронизации, шоб было понятно, что полезная инфа именно тута.
Итого 6 бит - для анализатора вполне приемлемо.
Если задействовать весь ПУ, то такого способа хватит максимум на 4 сбойные микросхемы + 4 бита для индикации того, что есть еще ошибки или их нет. Мой вариант универсальнее, но с другой стороны вряд ли часто бывает больше 4 плохих озушек сразу или их можно отлавливать и заменять не одномоментно, а в несколько приемов.
Эту тему просматривают: 1 (пользователей: 0 , гостей: 1)
Ваши права
Ответить с цитированием